RBS, XPS, and TEM study of metal and polymer interface modified by plasma treatment

0087702 - ÚJF 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Macková, Anna - Švorčík, V. - Sajdl, P. - Strýhal, Z. - Pavlík, J. - Malinský, Petr - Šlouf, Miroslav
RBS, XPS, and TEM study of metal and polymer interface modified by plasma treatment.
[Použití metod RBS, XPS a TEM pro studium rozhraní polymeru a kovu po plasmatické úpravě.]
Vacuum. Roč. 82, - (2007), s. 307-310. ISSN 0042-207X. E-ISSN 1879-2715
Grant CEP: GA MŠMT(CZ) LC06041
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10480505; CEZ:AV0Z40500505
Klíčová slova: Ion beam analysis
Kód oboru RIV: BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
Impakt faktor: 0.881, rok: 2007

We performed a study of the diffusion of Ag and Au atoms in polyethyleneterephtalate (PET). Thin metal layers were deposited using a diode-sputtering technique on polymer foils at room temperature. Simultaneous post-deposition annealing and plasma treatments were used to induce metal–polymer intermixing. Rutherford back-scattering spectrometry and X-ray photoelectron spectroscopy were used to determine the integral amount of metal and chemical structure in the surface layer. After plasma treatment Ag thin films exhibit dramatic changes of chemical composition and an integral amount of metal compared to Au thin films. Transmission Electron Microscopy shows the differences in the size and the depth distribution of metal particles, depending on the annealing temperature at the metal–polymer interface.

Byla provedena studie difuze Ag a Au do polyetyléntereftalátu (PET). Tenké kovové vrstvy byly deponovány s použitím diodového naprašování na polymerní substrát při pokojové teplotě. Následně bylo provedeno post-depoziční ozáření v Ar plasmatu současně se zvýšením teploty substrátu-polymeru pro dosažení interdifůze na rozhraní vrstvy kovu a polymerního substrátu. Metody Rutherfordovského zpětného rozptylu (RBS) a XPS byly použity pro určení integrálního množství kovu v povrchové vrstvě a změnu chemických vazeb v povrchové kovové vrstvě. Po ozáření v plasmatu Ag vykazuje dramatické chemického složení a rovněž se výrazně mění integrální množství Ag ve srovnání s Au, které zůstává téměř neovlivněno plasmatickou modifikací. Transmisní elektronová mikroskopie ukazuje změny velikosti a počtu Ag částic na rozhraní kovu a polymerního substrátu v závislosti na teplotě substrátu.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0149489