Dynamic Electronic Speckle Pattern Interferometry in Application to Measure Out-of-plane Displacement

0086248 - ÚT 2008 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
Dvořáková, Pavla - Bajgar, Vlastimil - Trnka, Jan
Dynamic Electronic Speckle Pattern Interferometry in Application to Measure Out-of-plane Displacement.
[Dymamická elektronická speklová interferometrie pro měření deformačních změn v normálovém směru.]
Engineering Mechanics. Roč. 14, 1/2 (2007), s. 37-44. ISSN 1802-1484
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IAA200760611
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20760514
Klíčová slova: ESPI * dynamic deformation * CCD
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery

Electronic Speckle Patern Interferometry is used to measure out-of-plane dynamic deformations. The fast transient events were excited by an impulsive load caused by focusing high-power laser beam on the surface of a thin steel plate.

Elektronická speklová interferometrie byla použita za účelem získání deformačního profilu. Rychlý přechodový děj byl vovolán fokusací laserového svazku na povrch tenké ocelové desky.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148567