Small displacement measurements with subatomic resolution by beat frequency measurements

0086156 - ÚPT 2008 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
Číp, Ondřej - Petrů, František - Buchta, Zdeněk - Lazar, Josef
Small displacement measurements with subatomic resolution by beat frequency measurements.
[Měření malých vzdáleností se subatomovým rozlišením pomocí měření záznějové frekvence.]
Measurement Science and Technology. Roč. 18, č. 7 (2007), s. 2005-2013. ISSN 0957-0233. E-ISSN 1361-6501
Grant CEP: GA AV ČR KJB200650503; GA MŠMT(CZ) LC06007; GA ČR GA102/07/1179; GA MPO FT-TA3/133
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: high-resolution interferometry * nanometrology
Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
Impakt faktor: 1.297, rok: 2007

We present a novel method for high-resolution measurement of displacements with sub-atomic resolution. With this method, a length change of an optical resonator is directly transformed into the radio-frequency signal. Possible applications of this method are the calibration of nano-positioning systems based on PZT-transducers, as well as inductive and capacitive sensors.

Představujeme novou metotu pro měření délky s vysokým rozlišením v řádu sub-atomových vzdáleností. Princip metody spočívá v transformaci změny délky optického rezonátoru na změnu optické frekvence pomocného laseru. Možnou oblastí použití této metody je kalbirace nano-polohovacích systémů a dále kalibrace stupnic indukčnostních a kapacitních snímačů.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148500