Počet záznamů: 1  

Damage threshold of inorganic solids under free-electron-laser irradiation at 32.5 nm wavelength

  1. 1.
    0086012 - FZÚ 2008 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Hau-Riege, S.P. - London, R.A. - Bionta, R.M. - McKernan, M.A. - Baker, S. L. - Krzywinski, J. - Sobierajski, R. - Nietubyc, R. - Pelka, J. B. - Jurek, M. - Juha, Libor - Chalupský, Jaromír - Cihelka, Jaroslav - Hájková, Věra - Velyhan, Andriy - Krása, Josef - Kuba, J. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Wabnitz, H. - Bergh, M. - Caleman, C. - Sokolowski-Tinten, K. - Stojanovic, N. - Zastrau, U.
    Damage threshold of inorganic solids under free-electron-laser irradiation at 32.5 nm wavelength.
    [Prahy poškození anorganických pevných látek ozářených laserem s volnými elektrony na vlnové délce 32,5 nm.]
    Applied Physics Letters. Roč. 90, č. 17 (2007), 173128/1-173128/3. ISSN 0003-6951. E-ISSN 1077-3118
    Grant CEP: GA MŠMT 1P04LA235; GA MŠMT LC510; GA MŠMT(CZ) LC528; GA AV ČR KAN300100702
    Grant ostatní: European Commission(XE) RII-CT-2004-506008, IA-SFS; GA MŠk(CZ) 1K05026
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523; CEZ:AV0Z40400503
    Klíčová slova: free-electron laser, * soft X-rays * damage threshold, * laser-matter interaction * ablation
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.596, rok: 2007

    We exposed samples of B4C, amorphous C, CVD-diamond C, Si, and SiC to single 25 fs-long pulses of 32.5 nm free-electron-laser radiation at fluences of up to 2.2 J/cm2. We found that the threshold for surface-damage is on the order of the fluence required for thermal melting

    Vzorky B4C, amorfního C, CVD-diamantu C, Si, a SiC byly ozářeny jednotlivými impulzy (délka 25 fs) na vlnové délce 32.5 nm laseru s volnými elektrony při fluencích do 2,2 J/cm2. Bylo zjištěno, že prahy poškození se řádově shodují s fluencemi potřebnými pro tepelné tavení materiálu

    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0148390

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.