Methods of Direct Imaging of the Local Density of States with Electrons

0049020 - ÚPT 2007 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
Methods of Direct Imaging of the Local Density of States with Electrons.
[Metody přímého zobrazování hustoty stavů pomocí elektronů.]
Proceedings of the 10th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: ISI AS CR, 2006 - (Müllerová, I.), s. 59-60. ISBN 80-239-6285-X.
[Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /10./. Skalský dvůr (CZ), 22.05.2006-26.05.2006]
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: local density of states * image contrast * electron reflectivity * very low energy electrons
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Applicability of the SLEEM method for direct mapping of LDOS is the topic of the present study. The main issues include managing of the non-negligible angular aperture of the incident beam and even of the rocking connected with beam scanning over the field of view. These conditions require the contrast forming model to be reconsidered.

Tato práce zkoumá možnosti metody SLEEM pro přímé mapování lokální hustoty elektronových stavů. Hlavními problémy jsou nezanedbatelná úhlová apertura dopadajícího elektronového svazku a změna úhlu dopadu při rastrování po povrchu vzorku. Tyto podmínky vyžadují, aby byl model tvorby obrazového kontrastu přehodnocen.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0139517