Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách

0047188 - ÚPT 2006 RIV CZ cze L - Prototyp, funkční vzorek
Hanzelka, Pavel - Králík, Tomáš - Musilová, Věra - Srnka, Aleš
Aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách.
[Apparatus for the measurement of total hemispherical emissivity and absorptivity of radiative heat at cryogenic temperatures.]
Interní kód: EMISTER ; 2004
Technické parametry: Zařízení umožňuje měření totální hemisférické emisivity (vzorek jako zářič) nebo absorptivity (vzorek jako přijímač) plynule v rozsahu teplot 20 – 300 K. Rovinný vzorek má tvar kruhu o průměru 40 mm.
Ekonomické parametry: Změřené hodnoty emisivity a absorptivity konkrétních materiálů umožňují přesný výpočet i optimalizaci navrhovaných kryogenních zařízení. Je možné realizovat měření emisivit a absorptivit vybraných materiálů na zakázku.
Grant CEP: GA AV ČR(CZ) IBS2065109
Klíčová slova: liquid helium * absorptivity * emissivity * heat flow * heat radiation * cryogenics
Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

Byla vyvinuta aparatura pro měření totálních hemisférických emisivit a absorptivit tepelného záření při kryogenních teplotách. Teplotní závislosti emisivit a absorptivit pro různé materiály je možné měřit standardně v rozsahu teplot 20 – 140 K, v některých případech lze teplotní rozsah rozšířit na 5 – 300 K. Měřené vzorky materiálů musí být rovinné s průměrem 40 mm. Obdobné měřící zařízení nebylo publikováno.

Apparatus for the measurement of total hemispherical emissivity and absorptivity of radiative heat at cryogenic temperatures was developed. Temperature dependence of those for various materials are measured standardly at the temperature region 20 –140 K and may be enhanced to 5 –300 K in some cases. Samples of materials measured must be plane and with diameter of 40 mm. Similar measurement apparatus was not published.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0138171