Počet záznamů: 1
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM
- 1.0044288 - ÚPT 2007 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
Frank, Luděk - Müllerová, Ilona
The Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) Mode in SEM.
[Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM) v REM.]
Microscopy and Microanalysis. Roč. 12, Suppl. 2 (2006), s. 152-153. ISSN 1431-9276. E-ISSN 1435-8115
Grant CEP: GA ČR GA202/04/0281
Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z20650511
Klíčová slova: SEM * low energy electrons * SLEEM
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Impakt faktor: 2.108, rok: 2006
The scanning low energy electron microscopy (SLEEM) mode, employing the cathode lens for retardation of the primary beam just in front of the sample surface, is presented together with results of selected demonstration experiments.
Režim rastrovací nízkoenergiové elektronové mikroskopie (SLEEM), využívající katodovou čočku ke zpomalení primárního svazku bezprostředně před povrchem preparátu, je popsán spolu s výsledky vybraných demonstračních experimentů.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0137111
Počet záznamů: 1