Detekční kvantová účinnost elektrony bombardovaného CCD

0022850 - ÚPT 2006 CZ cze K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
Horáček, Miroslav
Detekční kvantová účinnost elektrony bombardovaného CCD.
[Detective quantum efficiency of electron bombarded CCD.]
Mikroskopie 2005. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2005, s. 35.
[Mikroskopie 2005. Nové Město na Moravě (CZ), 24.2.2005-25.2.2005]
Grant CEP: GA ČR(CZ) GA202/03/1575
Klíčová slova: electron bombarded CCD * detective quantum efficiency
Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

Detekční kvantová účinnost (DQE) popisuje schopnost obrazového senzoru převést vstupní obrazovou informaci na výstupní elektrický signál z hlediska přidaného šumu. DQE byla měřena v režimu přímého elektronového bombardování metodou prázdného obrazu a mixing faktoru pro energie elektronů 2 – 5 keV. DQE roste s rostoucí energií bombardujících elektronů. Optimální pracovní energie z hlediska dynamického rozsahu, rozlišení úrovní šedé a doby integrace senzoru je 4.2 keV. Pro tuto energii je DQE 0.7 při době integrace signálu pod 10 ms.

Detective quantum efficiency (DQE) describes the ability of the image sensor to transfer input image information into the output electrical signal from the point of view of added noise. DQE was measured in direct electron bombarded mode using an empty image and the mixing facor method for energies of electrons 2 to 5 keV. DQE increases with increasing energy of bombarded electrons. Optimum wotking energy from the point of view of dynamic range, brightness resolutin, and integration time of the sensor is 4.2 keV. DQE is 0.7 for this energy and integration time below 10 ms.
Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0111560