0020811 - ÚMCH 2006 RIV CZ eng J - Journal Article
Šlouf, Miroslav - Synková, Hana - Baldrian, Josef
MDFT program: calculation of 2D and 1D diffraction patterns from electron micrographs.
[Program MDFT: výpočet 2D a 1D difrakčních obrazů ze SM mikrofotografií.]
Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. Roč. 12, č. 2 (2005), s. 85-89. ISSN 1211-5894.
[Colloquium of Crystallographic Society : Structure. Třešť, 20.06.2005-23.06.2005]
R&D Projects: GA ČR(CZ) GA106/04/1118
Institutional research plan: CEZ:AV0Z40500505
Keywords : two-dimensional Fourier transform * image analysis * ultra-high molecular weight polyethylene
Subject RIV: CF - Physical ; Theoretical Chemistry

MDFT program, described in this work, calculates discrete Fourier transform of grayscale electron micrographs, yielding results in the form of 2D-image or 1D-graphs. Scanning electron micrographs (SEM), which showed crystalline and amorphous regions in UHMWPE polymer were processed by MDFT and long period (LP) was calculated. The values of LP from MDFT were comparable with those obtained from small-angle X-ray scattering (SAXS).

Program MDFT, popsaný v této práci, počítá diskrétní Fourierovu transfomaci obrázku z rastrovacího elektronového mikroskopu (SEM). Výsledky dává ve formě 2D-obrázku nebo 1D-grafu. Na příkladu SEM mikrofotografií zobrazujících krystalické a amorfní oblasti v polymeru UHMWPE bylo demonstrováno, že 1D-grafy vypočtené programem MDFT poskytují hodnoty dlouhé periody, které jsou srovnatelné s hodnotami ziskanými pomocí maloúhlového rozptylu paprsku X (SAXS).
Permanent Link: http://hdl.handle.net/11104/0109865