Počet záznamů: 1  

Adsorption Site-Dependent Mobility Behavior in Graphene Exposed to Gas Oxygen

  1. 1.
    SYSNO ASEP0498916
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevAdsorption Site-Dependent Mobility Behavior in Graphene Exposed to Gas Oxygen
    Tvůrce(i) Blechta, Václav (UFCH-W) RID, ORCID
    Drogowska, Karolina (UFCH-W) RID
    Valeš, Václav (UFCH-W) RID, ORCID
    Kalbáč, Martin (UFCH-W) RID, ORCID
    Zdroj.dok.Journal of Physical Chemistry C. - : American Chemical Society - ISSN 1932-7447
    Roč. 122, č. 37 (2018), s. 21493-21499
    Poč.str.7 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovafield-effect transistors ; chemical-vapor-deposition ; walled carbon nanotube ; doped graphene ; layer graphene ; grown graphene
    Vědní obor RIVCF - Fyzikální chemie a teoretická chemie
    Obor OECDPhysical chemistry
    CEPGA18-20357S GA ČR - Grantová agentura ČR
    LTC18039 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaUFCH-W - RVO:61388955
    UT WOS000445711100042
    EID SCOPUS85053787931
    DOI10.1021/acs.jpcc.8b06906
    AnotaceTransport characteristics of graphene field-effect transistors were measured in situ in oxygen/nitrogen atmospheres and at various temperatures. Mobilities of holes were extracted from transport characteristics as well as the doping level depending on the time of graphene exposure to oxygen/nitrogen atmosphere. The hole mobility showed significant decrease upon the oxygen adsorption to low energy adsorption sites (sp(2) carbon). However, it remained unaffected by the oxygen adsorption to high-energy adsorption sites which are represented by defects, impurities, transfer residuals, edges, and functional groups on graphene. The Dirac point was upshifted for both the low- and high-energy adsorption events. Activation energy of oxygen adsorption/desorption was estimated from temperature-dependent desorption rate coefficients as 215 and 450 meV for the low- and high-energy adsorption sites, respectively.
    PracovištěÚstav fyzikální chemie J.Heyrovského
    KontaktMichaela Knapová, michaela.knapova@jh-inst.cas.cz, Tel.: 266 053 196
    Rok sběru2019
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.