Počet záznamů: 1  

Electro-optical testing of fully depleted CCD image sensors for the large synoptic survey telescope camera

  1. 1.
    SYSNO ASEP0485396
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevElectro-optical testing of fully depleted CCD image sensors for the large synoptic survey telescope camera
    Tvůrce(i) Doherty, P.E. (US)
    Antilogus, P. (FR)
    Astier, P. (FR)
    Chiang, J. (US)
    Gilmore, D.K. (US)
    Guyonnet, B. (FR)
    Huang, D.J. (US)
    Kelly, H. (US)
    Kotov, I.V. (US)
    Kubánek, Petr (FZU-D) RID
    Nomerotski, A. (US)
    O'Connor, P. (US)
    Rasmussen, A. (US)
    Riot, V.J. (US)
    Stubbs, C.W. (US)
    Takacs, P. (US)
    Tyson, J.A. (US)
    Vetter, K. (US)
    Celkový počet autorů18
    Číslo článku915418
    Zdroj.dok.High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy VI. - Bellingham : SPIE, 2014 / Holland A.D. ; Beletic J. - ISSN 0277-786X - ISBN 978-0-8194-9622-5
    Rozsah strans. 1-17
    Poč.str.17 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceSPIE Astronomical Telescopes & Instrumentation 2014
    Datum konání22.06.2014 - 25.06.2014
    Místo konáníMontreal
    ZeměCA - Kanada
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaLSST ; CCD
    Vědní obor RIVBN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika
    Obor OECDAstronomy (including astrophysics,space science)
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000354528900035
    EID SCOPUS84906337372
    DOI10.1117/12.2056733
    AnotaceThe LSST Camera science sensor array will incorporate 189 large format Charge Coupled Device (CCD) image sensors. Each CCD will include over 16 million pixels and will be divided into 16 equally sized segments and each segment will be read through a separate output amplifier. The science goals of the project require CCD sensors with state of the art performance in many aspects. The broad survey wavelength coverage requires fully depleted, 100 micrometer thick, high resistivity, bulk silicon as the imager substrate. Image quality requirements place strict limits on the image degradation that may be caused by sensor effects: optical, electronic, and mechanical. In this paper we discuss the design of the prototype sensors, the hardware and software that has been used to perform electro-optic testing of the sensors, and a selection of the results of the testing to date.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2018
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.