Počet záznamů: 1
Photovoltaic characterization of graphene/silicon Schottky junctions from local and macroscopic perspectives
- 1.
SYSNO ASEP 0474082 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Photovoltaic characterization of graphene/silicon Schottky junctions from local and macroscopic perspectives Tvůrce(i) Hájková, Zdeňka (FZU-D) RID, ORCID
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Müller, Martin (FZU-D) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Bouša, Milan (UFCH-W) RID, ORCID
Kalbáč, Martin (UFCH-W) RID, ORCID
Frank, Otakar (UFCH-W) RID, ORCIDCelkový počet autorů 9 Zdroj.dok. Chemical Physics Letters. - : Elsevier - ISSN 0009-2614
Roč. 676, May (2017), s. 82-88Poč.str. 7 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova CVD graphene ; microcrystalline silicon ; solar cells ; Schottky junctions ; current-voltage curves ; C-AFM Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Obor OECD Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.) Vědní obor RIV – spolupráce Ústav fyzikální chemie J.Heyrovského - Elektrochemie CEP GA14-15357S GA ČR - Grantová agentura ČR Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 ; UFCH-W - RVO:61388955 UT WOS 000400531700014 EID SCOPUS 85016143045 DOI 10.1016/j.cplett.2017.03.041 Anotace We present Schottky junction solar cell composed of CVD graphene transferred onto hydrogenated amorphous and microcrystalline silicon (µc-Si:H). The obtained results proved that the thickness of silicon oxide barrier at graphene-µc-Si:H interface is one of the key parameters that determines the solar cell performance. We demonstrated sample with open-circuit voltage of 445 mV, a remarkable value for undoped graphene-based solar cell. Photovoltaic characteristics of this sample remained stable over 11 months and could be further improved by doping. The graphene/silicon junctions were studied both macroscopically with solar simulator and locally by C-AFM. Very good correlation between both independent measurements proved C-AFM as highly useful tool for photovoltaic characterization on nano- and micrometer scale. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2018
Počet záznamů: 1