Počet záznamů: 1

Local electrostatic charging differences of sub-100 nm nanocrystalline diamond films

  1. 1.
    0354896 - FZU-D 2011 RIV DE eng J - Článek v odborném periodiku
    Verveniotis, Elisseos - Čermák, Jan - Kromka, Alexander - Ledinský, Martin - Remeš, Zdeněk - Rezek, Bohuslav
    Local electrostatic charging differences of sub-100 nm nanocrystalline diamond films.
    Physica Status Solidi. A. Roč. 207, č. 9 (2010), s. 2040-2044 ISSN 1862-6300
    Grant CEP: GA ČR GD202/09/H041; GA MŠk(CZ) LC06040; GA AV ČR KAN400100701; GA MŠk LC510
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * KFM * SEM * NCD * Raman * charging
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.458, rok: 2010

    Local electrostatic charging differences of sub-100 nm nanocrystalline diamond films. Atomic force microscopy (AFM) is used to induce electrostatically charged micrometer-sized patterns on the diamond films.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0193799