Počet záznamů: 1  

Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2

  1. 1.
    0342573 - FZÚ 2011 RIV DE eng M - Část monografie knihy
    Pou, P. - Jelínek, Pavel - Pérez, R.
    Basic mechanisms for single atom manipulation in semiconductor systems with the FM-AFM.
    Noncontact Atomic Force Microscopy. Volume 2. Berlin: Springer, 2009 - (Morita, S.; Giessibl, F.; Wiesendanger, R.), s. 227-248. Nanoscience and Technology. ISBN 978-3-642-01494-9
    Grant CEP: GA ČR GA202/09/0775; GA AV ČR IAA100100905
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * DFT simulation * atomic manipulation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

    This work unveils the atomic-scale mechanisms that are responsible for the room temperature manipulations of strongly bound atoms on semiconductor surfaces.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0185275

     
     
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.