Počet záznamů: 1

Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass

  1. 1.
    0337793 - ASU-R 2015 RIV US eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hudec, René - Maršíková, V. - Míka, M. - Sik, J. - Lorenz, M. - Pína, L. - Inneman, A. - Skulinová, Michaela
    Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass.
    Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IV. Bellingham: SPIE, 2009 - (O'Dell, S.), 74370S-1-74370S-12. Proceedings of the SPIE, 7437. ISBN 9780819477279. ISSN 0277-786X.
    [Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy /4./. San Diego (US), 31.08.2009-31.08.2009]
    Grant CEP: GA ČR GP202/07/P510
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10030501
    Klíčová slova: x-ray optics * Si wafers
    Kód oboru RIV: BN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika
    http://dx.doi.org/10.1117/12.827978

    We report on the continuation of the development of test samples of astronomical x-ray optics based on thermally formed glass foils and on bent Si wafers.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0181714