Počet záznamů: 1

Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces

  1. 1.
    0336680 - FZU-D 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Shukrynau, Pavel - Dudr, Viktor - Švec, Martin - Vondráček, Martin - Mutombo, Pingo - Skála, T. - Šutara, F. - Matolín, V. - Prince, K. C. - Cháb, Vladimír
    Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces.
    [Fotoemise z vnitřních hladin a STM charakterizace rozhraní Ta/Si(111)-7x7.]
    Surface Science. Roč. 603, č. 3 (2009), s. 469-476 ISSN 0039-6028
    Grant CEP: GA AV ČR IAA1010413
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: tantalum * silicon * silicide * aAdsorption * photoelectron spectroscopy * scanning tunneling microscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 1.798, rok: 2009

    We present the results of scanning tunneling microscopy (STM) and photoemission spectroscopy (PES) of the Ta/Si(111)-7x7 system after deposition of Ta at substrate temperatures from 300 to 1250 K.

    Byly prezentovány výsledky STM a fotoemisní spektroskopie Ta/Si(111)-7x7 systému po depozici tantalu na substrátu při teplotách od 300 - 1250 K.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0180865