Počet záznamů: 1

Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle

  1. 1.
    0334026 - FZU-D 2010 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Chalupský, Jaromír - Hájková, Věra - Altapova, V. - Burian, T. - Gleeson, A.J. - Juha, Libor - Jurek, M. - Sinn, H. - Störmer, M. - Sobierajski, R. - Tiedtke, K. - Toleikis, S. - Tschentscher, T. - Vyšín, Luděk - Wabnitz, H. - Gaudin, J.
    Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle.
    [Studium poškozování amorfního uhlíku ozařovaného femtosekundovými pulsy měkkého rentgenového záření nad a pod kritickým úhlem.]
    Applied Physics Letters. Roč. 95, č. 3 (2009), 031111/1-031111/3 ISSN 0003-6951
    Grant CEP: GA AV ČR KAN300100702; GA MŠk LC510; GA MŠk(CZ) LC528; GA MŠk LA08024; GA AV ČR IAAX00100903; GA AV ČR IAA400100701
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100523
    Klíčová slova: amorphous state * carbon * coatings * graphitisation * laser beam effects * nanostructured materials * phase transformations * reflectivity
    Kód oboru RIV: BH - Optika, masery a lasery
    Impakt faktor: 3.554, rok: 2009

    We present results of damage studies conducted at the Free Electron LASer in Hamburg (FLASH) facility with 13.5 nm (91.8 eV) and 7 nm (177.1 eV) radiations. The laser beam was focused on a sample of 890-nm-thick amorphous carbon coated on a silicon wafer mimicking a x-ray mirror. The fluence threshold for graphitization was determined for different grazing angles above and below the critical angle. The observed angular dependence of F-th is explained by the variation in absorption depth and reflectivity. Moreover, the absorbed local dose needed for the phase transition leading to graphitization is shown to vary with the radiation wavelength.

    V tomto článku shrnujeme výsledky poškozovacích studií, které proběhly na laseru na volných elektronech (FLASH) v Hamburku na vlnových délkách 13,5 nm (91,8 eV) a 7 nm (177,1 eV). Laserový svazek byl zafokusován na povrch 890-nm tlusté vrstvy amorfního uhlíku nanesené na křemíkovém substrátu zastupující reálné rentgenové zrcadlo. V geometrii grazing incidence se nám podařilo získat prahové plošné hustoty energie pro grafitizaci materiálu pro různé úhly nad a pod kritickým úhlem. Pozorovanou úhlovou závislost prahové fluence F-th lze vysvětlit změnou absorpční délky a odrazivosti vrstvy. Dále se pak ukazuje, že lokální dávka absorbované energie, nutná pro fázový přechod grafitizace, závisí na vlnové délce dopadajícího záření.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0178866