Počet záznamů: 1

XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation

  1. 1.
    0331835 - FZU-D 2010 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Lesiak, B. - Zemek, Josef - Houdková, Jana - Jiříček, Petr - Jozwik, A.
    XPS and XAES of polyethylenes aided by line shape analysis: The effct of electron irradiation.
    [Analýza tvaru XPS a XAES spekter polyetylénů: Vliv ozáření elektrony.]
    Polymer Degradation and Stability. Roč. 94, č. 10 (2009), s. 1714-1721 ISSN 0141-3910
    Grant CEP: GA AV ČR IAA100100622
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: XPS * XAES * line shape analysis * electron beam degradation
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 2.154, rok: 2009

    We have studied different polyethylene surfaces by XPS and XAES and line shape analysis under electron irradiation.

    Byly studovány různé povrchy polyetylénů postupně ozařované elektrony metodami XPS a XAES a analýzou tvaru spekter.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0177246