Počet záznamů: 1

Surface analysis by imaging mass spectrometry

  1. 1.
    0330419 - MBU-M 2010 RIV CZ eng J - Článek v odborném periodiku
    Vidová, Veronika - Volný, Michael - Lemr, Karel - Havlíček, Vladimír
    Surface analysis by imaging mass spectrometry.
    [Povrchová analýza pomocí zobrazovací hmotnostní spektrometrie.]
    Collection of Czechoslovak Chemical Communications. Roč. 74, 7-8 (2009), s. 1101-1116 ISSN 0010-0765
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z50200510
    Klíčová slova: secondary ion mass spectrometry * matrix assisted laser desorption ionization * mass spectrometry
    Kód oboru RIV: CB - Analytická chemie, separace
    Impakt faktor: 0.856, rok: 2009

    A review of four MS-based technmiques availablw for molecular surface imaging is presented. The maind focus is on the commercially available mass spectrometry imaging techniques: secondary ion mass-spectrometry (SIMS)

    V tomto minireview jsou obecně popsány čtyři hmotnostně-spektrometrické techniky, které jsou používány v analýze povrchů.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0176210