Počet záznamů: 1

Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy

  1. 1.
    0328715 - FZU-D 2010 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Pou, P. - Ghasemi, S.A. - Jelínek, Pavel - Lenosky, T. - Goedecker, S. - Perez, R.
    Structure and stability of semiconductor tip apexes for atomic force microscopy.
    [Struktura a stabilita polovodičových hrotů pro mikroskop atomárních sil.]
    Nanotechnology. Roč. 20, č. 26 (2009), 264015/1-264015/10 ISSN 0957-4484
    Grant CEP: GA AV ČR KAN400100701; GA AV ČR IAA100100905
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100521
    Klíčová slova: AFM * first principles simulations * DFT * force spectroscopy
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Impakt faktor: 3.137, rok: 2009

    Here we present a detailed and systematic study of the most common structures that can be expected at the apex of the Si tips used in experiments.

    V této práci prezentujeme detailní a systematickou studii nejběžnějších struktur, které můžeme očekávat na vrcholu křemíkových hrotů používaných v experimentech.
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0174960