Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM

Jirák J



Název
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM
Autor
lupa Jirák J.
Spoluautoři
lupa Čudek P.
lupa Neděla Vilém UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Microscopy and Microanalysis. Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 922-923
Vyd.údaje
2 s.
Poznámky
UT WOS nezjištěno
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
US
Klíč.slova
variable pressure scanning electron microscopes (VP-SEM) * scintillation detector * secondary electrons
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0203133