Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy

Mikmeková Šárka



Název
Strain Mapping by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Autor
lupa Mikmeková Šárka UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Man O.
lupa Pantělejev L.
lupa Hovorka Miloš UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Müllerová Ilona UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Frank Luděk UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Kouřil M.
Zdroj.dok.
lupa Materials Structure and Micromechanics of Fracture VI (Key Engineering Materials Vol. 465). S. 338-341. - Zurich : Trans Tech Publications, 2011 / Šandera P.
Vyd.údaje
4 s.
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
CH
Klíč.slova
scanning low energy electron microscopy (SLEEM) * contrast of crystal orientation * microscopic strain
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0202409