Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates

Holovský Jakub



Název
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
Autor
lupa Holovský Jakub FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Dagkaldiran U.
lupa Remeš Zdeněk FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Purkrt Adam FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Ižák Tibor FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Poruba Aleš FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Vaněček Milan FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Physica Status Solidi. A, Applications and Materials Science. Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581
Vyd.údaje
4 s.
Poznámky
2015 Oprava UTWoS
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
DE
Klíč.slova
solar cell * silicon * spectroscopy
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0201253