In-situ synchrotron X-Ray diffraction investigation of the fast recovery of microstructure during electropulse treatment of heavily cold drawn nanocrystalline Ni-Ti wires

Malard B



Název
In-situ synchrotron X-Ray diffraction investigation of the fast recovery of microstructure during electropulse treatment of heavily cold drawn nanocrystalline Ni-Ti wires
Autor
lupa Malard B.
Spoluautoři
lupa Pilch Jan FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Šittner Petr FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Delville R.
lupa Curfs C.
Zdroj.dok.
lupa Solid State Phenomena. 172-174, č. 6 (2011), s. 1243-1248
Vyd.údaje
6 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
CH
Klíč.slova
recovery process * electropulse treatment * in-situ analysis * superelasticity
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0200473