Surface refinement and electronic properties of graphene layers grown on copper substrate: An XPS, UPS and EELS study

Siokou A



Název
Surface refinement and electronic properties of graphene layers grown on copper substrate: An XPS, UPS and EELS study
Autor
lupa Siokou A.
Spoluautoři
lupa Ravani F.
lupa Karakalos S.
lupa Frank Otakar UFCH-W - Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
lupa Kalbáč Martin UFCH-W - Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
lupa Galiotis C.
Zdroj.dok.
lupa Applied Surface Science. Roč. 257, č. 23 (2011), s. 9785-9790. - : ELSEVIER SCIENCE BV
Vyd.údaje
6 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
NL
Klíč.slova
graphene * XPS * EELS
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0006521