Detection of Elliptical Particles in Atomic Force Microscopy Images

Sedlář Jiří



Název
Detection of Elliptical Particles in Atomic Force Microscopy Images
Autor
lupa Sedlář Jiří UTIA-B - Ústav teorie informace a automatizace AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Zitová Barbara UTIA-B - Ústav teorie informace a automatizace AV ČR, v. v. i.
lupa Kopeček Jaromír FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Todorciuc T.
lupa Kratochvílová Irena FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa ICASSP 2011: IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing. S. 1233-1236. - Praha : IEEE, 2011
Vyd.údaje
4 s.
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
CZ
Klíč.slova
particles detection * atomic force microscopy (AFM) imaging * watershed segmentation * image moments * approximation by ellipses
URL
http://library.utia.cas.cz/separaty/2011/ZOI/sedlar-detection of elliptical particles in atomic force microscopy images.pdf
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
URL
http://library.utia.cas.cz/separaty/2011/ZOI/sedlar-detection of elliptical particles in atomic force microscopy images.pdf http://library.utia.cas.cz/separaty/2011/ZOI/sedlar-detection of elliptical particles in atomic force microscopy images.pdf
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0197718