Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon

Verveniotis Elisseos



Název
Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon
Autor
lupa Verveniotis Elisseos FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Rezek Bohuslav FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Šípek Emil FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Stuchlík Jiří FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Kočka Jan FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Thin Solid Films. Roč. 518, č. 21 (2010), s. 5965-5970. - : Elsevier
Vyd.údaje
6 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
CH
Klíč.slova
amorphous materials * atomic force microscopy (AFM) * conductivity * crystallization * nanostructures * silicon * nickel
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0193834