Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements

Ge Y



Název
Probing structure and microstructure of epitaxial Ni–Mn–Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements
Autor
lupa Ge Y.
Spoluautoři
lupa Heczko Oleg FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Hannula S.-P.
lupa Fähler S.
Zdroj.dok.
lupa Acta Materialia. Roč. 58, č. 20 (2010), 6665-6671. - : Elsevier
Vyd.údaje
7 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
GB
Klíč.slova
reciprocal space mapping * thin film * Ni–Mn–Ga * martensite * magnetic shape memory
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0192458