Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes

Jirák J



Název
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector in Variable Pressure Scanning Electron Microscopes
Autor
lupa Jirák J.
Spoluautoři
lupa Čudek P.
lupa Neděla Vilém UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Proceedings of the 17th IFSM International Microscopy Congress. I10.14: 1-2. - Rio de Janeiro : Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanilise, 2010
Vyd.údaje
2 s.
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
BR
Klíč.slova
VPSEM * scintillation detector
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0192396