Multiwavelength laser interferometry with semiconductor laser source

Mikel Břetislav



Název
Multiwavelength laser interferometry with semiconductor laser source
Autor
lupa Mikel Břetislav UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Buchta Zdeněk UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Lazar Josef UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Číp Ondřej UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa 17th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics (Proceedings of SPIE Vol. 7746). 77460F: 1-6. - Bellingham : SPIE, 2010
Vyd.údaje
6 s.
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
US
Klíč.slova
laser interferometry * wavelength scanning interferometry * laser diode
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0191772