DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology

Mikel Břetislav



Název
DFB Laser Source at 760 nm Wavelength for Nanometrology
Autor
lupa Mikel Břetislav UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Buchta Zdeněk UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Lazar Josef UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Číp Ondřej UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Proceedings of the International Conference on Nanotechnology: Fundamentals and Applications. 277: 1-8. - Ottawa : International ASET, 2010
Vyd.údaje
8 s.
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
CA
Klíč.slova
DFB laser diode * nanometrology * stabilization * tuneability
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0191760