Semiconductor laser sources at 760 nm wavelength for nanometrology

Mikel Břetislav



Název
Semiconductor laser sources at 760 nm wavelength for nanometrology
Autor
lupa Mikel Břetislav UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Buchta Zdeněk UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Lazar Josef UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Číp Ondřej UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Proceedings of the 9th WSEAS International Conference on Microelectronics, Nanoelectronics, Optoelectronic. S. 96-101. - Sofia : WSEAS EUROPMENT Press, 2010
Vyd.údaje
6 s.
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
BG
Klíč.slova
laser interferometry * absolute measurement * tunable laser diodes
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0191758