X-ray diffraction analysis of multilayer porous InP(001) structure

Lomov A. A



Název
X-ray diffraction analysis of multilayer porous InP(001) structure
Autor
lupa Lomov A. A.
Spoluautoři
lupa Punegov V. I.
lupa Vasil'ev A. L.
lupa Nohavica Dušan URE-Y - Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
lupa Gladkov Petar URE-Y - Ústav fotoniky a elektroniky AV ČR, v. v. i.
lupa Kartsev A. A.
lupa Novikov D. V.
Zdroj.dok.
lupa Crystallography Reports. Roč. 55, č. 2 (2010), s. 182-190
Vyd.údaje
9 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
RU
Klíč.slova
silicon layers * INP
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0191457