3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)

Hradilová Monika



Název
3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
Autor
lupa Hradilová Monika FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Jäger Aleš FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Lejček Pavel FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Metal 2010 - 19th international conference on metallurgy and materials. S. 152-153. - Ostrava : Tanger s.r.o, 2010
Vyd.údaje
2 s.
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
CZ
Klíč.slova
scanning electron microscopy * focused ion beam * 3D characterization
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0191410