Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films

Fejfar Antonín



Název
Relation of nanoscale and macroscopic properties of mixed-phase silicon thin films
Autor
lupa Fejfar Antonín FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Vetushka Aliaksi FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Kalusová V.
lupa Čertík Ondřej FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Ledinský Martin FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Rezek Bohuslav FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Stuchlík Jiří FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Kočka Jan FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Physica Status Solidi. A, Applications and Materials Science. Roč. 207, č. 3 (2010), s. 582-586
Vyd.údaje
5 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
DE
Klíč.slova
conductive atomic force microscopy (C-AFM) * mixed phase silicon thin films
URL
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982907
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
URL
http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982907
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0188510