Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution

Ledinský Martin



Název
Raman mapping of microcrystalline silicon thin films with high spatial resolution
Autor
lupa Ledinský Martin FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Vetushka Aliaksi FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Stuchlík Jiří FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Fejfar Antonín FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Kočka Jan FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Physica Status Solidi C: Current Topics in Solid State Physics. Roč. 7, 3-4 (2010), s. 704-707
Vyd.údaje
4 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
DE
Klíč.slova
Raman * atomic force microscopy * microcrystalline silicon
URL
http://www3.interscience.wiley.com/journal/123277609/abstract
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
URL
http://www3.interscience.wiley.com/journal/123277609/abstract
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0188466