Interpretation of Profile and Intercept Counts in Microstructure Characterization

Saxl Ivan



Název
Interpretation of Profile and Intercept Counts in Microstructure Characterization
Autor
lupa Saxl Ivan MU-W - Matematický ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Sklenička Václav UFM-A - Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Recent Developments in the Processing and applications of Structural Metals and Alloys. S. 403-410. - Zurich : Trans Tech Publications LTD, 2009 / Cabibbo M. ; Spigarelli S.
Vyd.údaje
8 s.
Poznámky
MSM0021620839
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
CH
Klíč.slova
microstructure characterization * intercept count * grain density * metallography
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0185945