Non-destructive Depth Profiling of the Activated Ti-Zr-V Getter by Means of Excitation Energy Resolved Photoelectron Spectroscopy

Pavluch J



Název
Non-destructive Depth Profiling of the Activated Ti-Zr-V Getter by Means of Excitation Energy Resolved Photoelectron Spectroscopy
Autor
lupa Pavluch J.
Spoluautoři
lupa Zommer L.
lupa Mašek K.
lupa Skála T.
lupa Šutara F.
lupa Nehasil V.
lupa Píš I.
lupa Polyak Yaroslav UFCH-W - Ústav fyzikální chemie Jaroslava Heyrovského AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Analytical Sciences. Roč. 26, č. 2 (2010), s. 209-215
Vyd.údaje
7 s.
Poznámky
Práce vznikla za podpory VZ MSM 0021620834 a projektu ME08056
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
JP
Klíč.slova
non-evaporable getter materials * XPS methods
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0185884