Novel approach to material evaluation of thin surface layers by resonant ultrasound spectroscopy

Landa Michal



Název
Novel approach to material evaluation of thin surface layers by resonant ultrasound spectroscopy
Autor
lupa Landa Michal UT-L - Ústav termomechaniky AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Růžek Michal UT-L - Ústav termomechaniky AV ČR, v. v. i.
lupa Sedlák Petr UT-L - Ústav termomechaniky AV ČR, v. v. i.
lupa Seiner Hanuš UT-L - Ústav termomechaniky AV ČR, v. v. i.
lupa Bodnárová Lucie UT-L - Ústav termomechaniky AV ČR, v. v. i.
lupa Zídek Jan UT-L - Ústav termomechaniky AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Journal of Physics: Conference Series. Roč. 214, č. 1 (2010), s. 1-5
Vyd.údaje
5 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
BE
Klíč.slova
resonant ultrasound spectroscopy (RUS) * thin films * DLC
URL
http://iopscience.iop.org/1742-6596/214/1/012045/
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
URL
http://iopscience.iop.org/1742-6596/214/1/012045/
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0185069