New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors

Sadewasser S



Název
New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors
Autor
lupa Sadewasser S.
Spoluautoři
lupa Jelínek Pavel FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Fang Ch.-K.
lupa Custance Ó.
lupa Yamada Y.
lupa Sugimoto Y.
lupa Abe M.
lupa Morita S.
Zdroj.dok.
lupa Physical Review Letters. Roč. 103, č. 26 (2009), 266103/1-266103/4
Vyd.údaje
4 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
US
Klíč.slova
KPFM * atomic force microscopy * DFT * atomic resolution * semiconductor surface
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0183034