Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass

Hudec René



Název
Advanced x-ray optics with Si wafers and slumped glass
Autor
lupa Hudec René ASU-R - Astronomický ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Maršíková V.
lupa Míka M.
lupa Sik J.
lupa Lorenz M.
lupa Pína L.
lupa Inneman A.
lupa Skulinová Michaela ASU-R - Astronomický ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Optics for EUV, X-Ray, and Gamma-Ray Astronomy IV. 74370S-1-74370S-12. - Bellingham : SPIE, 2009 / O'Dell S.
Vyd.údaje
12 s. : P
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
US
Klíč.slova
x-ray optics * Si wafers
URL
http://dx.doi.org/10.1117/12.827978
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
URL
http://dx.doi.org/10.1117/12.827978
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0181714