Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length

Mikel Břetislav



Název
Laser sources at 760 nm wavelength for metrology of length
Autor
lupa Mikel Břetislav UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Buchta Zdeněk UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Lazar Josef UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
lupa Číp Ondřej UPT-D - Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Africon 2009. 5308091: 1-6. - Los Alamitos : IEEE, 2009
Vyd.údaje
6 s.
Poznámky
10.1109/AFRCON.2009.5308091
Druh dok.
C
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
US
Klíč.slova
laser interferometry * absolute measurement * tunable laser diodes
Databáze
zc - Konferenční příspěvek (zahraniční konference)
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0180969