Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces

Shukrynau Pavel



Název
Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces
Překlad názvu
Fotoemise z vnitřních hladin a STM charakterizace rozhraní Ta/Si(111)-7x7
Autor
lupa Shukrynau Pavel FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Spoluautoři
lupa Dudr Viktor FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Švec Martin FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Vondráček Martin FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Mutombo Pingo FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Skála T.
lupa Šutara F.
lupa Matolín V.
lupa Prince K. C.
lupa Cháb Vladimír FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Surface Science. Roč. 603, č. 3 (2009), s. 469-476. - : Elsevier
Vyd.údaje
8 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
NL
Klíč.slova
tantalum * silicon * silicide * aAdsorption * photoelectron spectroscopy * scanning tunneling microscopy
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0180865