Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation

Hau-Riege S.P



Název
Wavelength dependence of the damage threshold of inorganic materials under extreme-ultraviolet free-electron-laser irradiation
Překlad názvu
Závislost prahu poškození anorganických materiálů ozářených XUV laserem s volnými elektrony
Autor
lupa Hau-Riege S.P.
Spoluautoři
lupa London R.A.
lupa Bionta R.M.
lupa Ryutov D.
lupa Soufli R.
lupa Bajt S.
lupa McKernan M.A.
lupa Baker S. L.
lupa Krzywinski J.
lupa Sobierajski R.
lupa Nietubyc R.
lupa Klinger D.
lupa Pelka J. B.
lupa Jurek M.
lupa Juha Libor FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Chalupský Jaromír FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Cihelka Jaroslav FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Hájková Věra FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Velyhan Andriy FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Krása Josef FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Tiedtke K.
lupa Toleikis S.
lupa Wabnitz H.
lupa Bergh M.
lupa Caleman C.
lupa Timneanu N.
Zdroj.dok.
lupa Applied Physics Letters. Roč. 95, č. 11 (2009), 111104/1-111104/3
Vyd.údaje
3 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
US
Klíč.slova
damage threshold * silicon carbide * boron carbide * soft X-ray free-electron laser
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0178918