Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate

Ogane A



Název
Crystallographic properties of grain size-controlled polycrystalline silicon thin films deposited on alumina substrate
Překlad názvu
Krystalografické vlastnosti tenkých vrstev polykrystalického křemíku s řízenou velikostí zrna na safírových podložkách
Autor
lupa Ogane A.
Spoluautoři
lupa Honda Shinya FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Uraoka Y.
lupa Fuyuki T.
lupa Fejfar Antonín FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Kočka Jan FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Journal of Crystal Growth. Roč. 311, č. 3 (2009), s. 789-793. - : Elsevier
Vyd.údaje
5 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
NL
Klíč.slova
crystallites * defects * chemical vapor deposition processes * solar cells
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0172268