Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM

Sorbello F



Název
Preparation of location-specific thin foils from Fe-3%Si bi- and tri- crystals for examination in a FEG-STEM
Překlad názvu
Příprava lokalizovaných tenkých folií z bi- a trikrystalů Fe-3%Si pro FEG-STEM vyšetřování
Autor
lupa Sorbello F.
Spoluautoři
lupa Hughes G.M.
lupa Lejček Pavel FZU-D - Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
lupa Heard P.J.
lupa Flewitt P.E.J.
Zdroj.dok.
lupa Ultramicroscopy. Roč. 109, č. 2 (2009), 147-153. - : Elsevier
Vyd.údaje
7 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
NL
Klíč.slova
FEG-STEM * Fe-3%Si * Thin foils * focused ion beam
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0170530