Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films

Knotek P



Název
Atomic force microscopy and atomic force acoustic microscopy characterization of photo-induced changes in some Ge-As-S amorphous films
Překlad názvu
Charakterizace fotoindukovaných změn v amorfních filmech Ge-As-S pomocí AFM a AFAM
Autor
lupa Knotek P.
Spoluautoři
lupa Tichý Ladislav UMCH-V - Ústav makromolekulární chemie AV ČR, v. v. i.
Zdroj.dok.
lupa Thin Solid Films. Roč. 517, č. 5 (2009), s. 1837-1840. - : Elsevier
Vyd.údaje
4 s.
Druh dok.
J
Jazyk dok.
eng
Země vyd.
NL
Klíč.slova
amorphous materials
Databáze
zj - Článek v odborném časopise
Trvalý link
http://hdl.handle.net/11104/0169011