Výsledky vyhledávání

  1. 1. 0481585 - UPT-D 2018 RIV HR eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Konvalina, Ivo - Paták, Aleš - Mika, Filip - Müllerová, Ilona
    STEM modes in SEM – simulations and experiments.
    13th Multinational Congress on Microscopy: Book of Abstracts. Zagreb: Ruder Bošković Institute, Croatian Microscopy Society, 2017 - (Gajović, A.; Weber, I.; Kovačević, G.; Čadež, V.; Šegota, S.; Peharec Štefanić, P.; Vidoš, A.), s. 140-141. ISBN 978-953-7941-19-2.
    [Multinational Congress on Microscopy /13./. Rovinj (HR), 24.09.2017-29.09.2017]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM detector * trajectory simulations * cathode lens * collection efficiency
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECD: Electrical and electronic engineering
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0277129
     

  2. 2. 0436878 - UPT-D 2016 RIV NL eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
    Imaging of tissue sections with very slow electrons.
    Ultramicroscopy. Roč. 148, JAN 2015 (2015), s. 146-150 ISSN 0304-3991
    Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: Biological STEM * Ultralow energy STEM * Tissue sections * Cathode lens * Depolymerisation
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.874, rok: 2015
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240520
     

  3. 3. 0436805 - UPT-D 2015 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Müllerová, Ilona - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Pokorná, Zuzana - Frank, Luděk
    Exploitation of Contrasts in Low Energy SEM to Reveal True Microstructure.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 20, S3 (2014), s. 858-859 ISSN 1431-9276
    Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * contrast * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 1.877, rok: 2014
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0240464
     

  4. 4. 0423862 - UPT-D 2014 DE eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pokorná, Zuzana - Knápek, Alexandr
    Scanning Low Energy Electron Microscopy for the determination of crystallographic orientation of polycrystalline metal grains.
    Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings. Vol. 2. Regensburg: University of Regensburg, 2013, s. 329-330.
    [Microscopy Conference 2013. Regensburg (DE), 25.08.2013-30. 08.2013]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SLEEM * Crystallographic orientation * polycrystalline metal * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229924
     

  5. 5. 0422788 - UPT-D 2014 CZ eng K - Konferenční příspěvek (tuzemská konf.)
    Frank, Luděk - Nebesářová, Jana - Vancová, Marie - Paták, Aleš - Müllerová, Ilona
    Very low energy STEM for biology.
    Mikroskopie 2013. Praha: Československá mikroskopická společnost, 2013, s. 19.
    [Mikroskopie 2013. Lednice (CZ), 13.05.2013-14.05.2013]
    Grant CEP: GA TA ČR TE01020118; GA ČR GAP108/11/2270; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: tissue sections * ultra-low-energy STEM * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0229236
     

  6. 6. 0385193 - UPT-D 2013 RIV CH eng J - Článek v odborném periodiku
    Frank, Luděk - Hovorka, Miloš - Mikmeková, Šárka - Mikmeková, Eliška - Müllerová, Ilona - Pokorná, Zuzana
    Scanning Electron Microscopy with Samples in an Electric Field.
    Materials. Roč. 5, č. 12 (2012), s. 2731-2756 ISSN 1996-1944
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270; GA TA ČR TE01020118; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * slow electrons * low energy SEM * low energy STEM * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Impakt faktor: 2.247, rok: 2012
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0214527
     

  7. 7. 0379933 - UPT-D 2012 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Mika, Filip
    Collection contrast in the immersion objective lens of the scanning electron microscope.
    Proceedings of the 13th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments AS CR, v.v.i, 2012 - (Mika, F.), -, -, s. 49-50. ISBN 978-80-87441-07-7.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /13./. Skalský dvůr (CZ), 25.06.2012-29.06.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * cathode lens * secondary electrons * backscattered electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210780
     

  8. 8. 0379918 - UPT-D 2013 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Pokorná, Zuzana - Mikmeková, Šárka - Matsuda, K. - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Backscattered electrons in examination of materials.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 940:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA ČR GAP108/11/2270
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscope * backscattered electrons * cathode lens
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210769
     

  9. 9. 0379917 - UPT-D 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hovorka, Miloš - Müllerová, Ilona - Frank, Luděk
    Very Low Energy STEM and Imaging of Free-standing Foils.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 411:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning low energy electron microscopy * cathode lens * transmitted electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210768
     

  10. 10. 0379916 - UPT-D 2012 RIV AU eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Müllerová, Ilona - Konvalina, Ivo - Hovorka, Miloš - Mika, Filip
    Approaches to the Collection Contrast in the Immersion Objective Lens of the Scanning Electron Microscope.
    Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. Wembley: EECW Pty Ltd, 2012, 410:1-2. ISBN 978-1-74052-245-8.
    [Asia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22). Perth (AU), 05.02.2012-09.02.2012]
    Grant CEP: GA MPO FR-TI3/323
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * cathode lens * secondary electrons * backscattered electrons
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0210767