Výsledky vyhledávání

  1. 1. 0481337 - UPT-D 2018 CN eng A - Abstrakt
    Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška
    Ultralow Energy Scanning Transmission Electron Microscopy and Graphene.
    BIT's 5th Annual Conference of AnalytiX-2017. Conference Abstract Book. Dalian: BIT Goup Global, 2017. s. 223.
    [BIT's Annual Conference of AnalytiX-2017 /5./. 22.03.2017-24.03.2017, Fukuoka]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: STEM * graphene * ulatralow energy
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Obor OECD: Nano-materials (production and properties)
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0276914
     

  2. 2. 0465340 - UPT-D 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Skoupý, Radim - Krzyžánek, Vladislav - Nebesářová, Jana
    Plasma cleaning effect on the stability of the Epon resin sections.
    EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 597-598. ISBN 9783527808465.
    [EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: STEM * plasma cleaning
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika (BC-A)
    http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.5995/pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263960
     

  3. 3. 0465336 - UPT-D 2017 RIV GB eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Krzyžánek, Vladislav - Tacke, S.
    MASDET2 – software for quantitative STEM imaging.
    EMC2016. The 16th European Microscopy Congress. Proceedings. Oxford: Wiley, 2016, s. 583-584. ISBN 9783527808465.
    [EMC2016. European Microscopy Congress /16./. Lyon (FR), 28.08.2016-02.09.2016]
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: mass measurement * quantitative imaging * STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/9783527808465.EMC2016.5831/pdf
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263952
     

  4. 4. 0465206 - UPT-D 2017 RIV US eng J - Článek v odborném periodiku
    Skoupý, Radim - Nebesářová, Jana - Krzyžánek, Vladislav
    Electron Beam Induced Mass Loss Dependence on Stained Thin Epon Resin Sections.
    Microscopy and Microanalysis. Roč. 22, S3 (2016), s. 926-927 ISSN 1431-9276
    Grant CEP: GA ČR(CZ) GA14-20012S; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731 ; RVO:60077344
    Klíčová slova: TEM * STEM * EFTEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika; JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika (BC-A)
    Impakt faktor: 1.891, rok: 2016
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0263873
     

  5. 5. 0460856 - UPT-D 2017 CZ cze J - Článek v odborném periodiku
    Mika, Filip
    Recent Trends 2016.
    [Recent Trends 2016.]
    Akademický bulletin AV ČR. -, 7-8 (2016), s. 15 ISSN 1210-9525
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: SEM * TEM * STEM * atomic resolution * electron source * electron optics computations * laser beams
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260830
     

  6. 6. 0460211 - UPT-D 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Řiháček, Tomáš - Mika, Filip - Matějka, Milan - Krátký, Stanislav - Müllerová, Ilona
    Difraction in a scanning electron microscopie.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 56-57. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * TEM * STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260343
     

  7. 7. 0460210 - UPT-D 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Radlička, Tomáš - Oral, Martin
    Correction of misalignment aberrations of a hexapole corrector using the differential algebra method.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 50-53. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01; GA MŠk(CZ) 7H13015
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * Schertzer theorem * TEM * STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260342
     

  8. 8. 0460207 - UPT-D 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Rozbořil, Jakub - Oral, Martin - Radlička, Tomáš
    Optimal X-ray detection for thin samples in low-energy STEM.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 44-45. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * EDS * STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260339
     

  9. 9. 0460200 - UPT-D 2017 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Frank, Luděk - Mikmeková, Eliška
    Treatment of surfaces with slow electrons.
    Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Brno: Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 - (Mika, F.), s. 10-11. ISBN 978-80-87441-17-6.
    [International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./. Skalský dvůr (CZ), 29.05.2016-03.06.2016]
    Grant CEP: GA TA ČR(CZ) TE01020118; GA MŠk(CZ) LO1212; GA MŠk ED0017/01/01
    Institucionální podpora: RVO:68081731
    Klíčová slova: electron microscopy * SEM * STEM
    Kód oboru RIV: JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    http://www.trends.isibrno.cz/
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0260332
     

  10. 10. 0458795 - UEK-B 2017 RIV GB eng J - Článek v odborném periodiku
    Macháčová, Kateřina - Bäck, J. - Vanhatalo, A. - Halmeenmäki, E. - Kolari, P. - Mammarella, I. - Pumpanen, J. - Acosta, Manuel - Urban, Otmar - Pihlatie, M.
    Pinus sylvestris as a missing source of nitrous oxide and methane in boreal forest.
    Scientific Reports. Roč. 6, mar (2016), s. 23410 ISSN 2045-2322
    Grant CEP: GA MŠk(CZ) LO1415; GA MŠk EE2.3.20.0246
    Institucionální podpora: RVO:67179843
    Klíčová slova: CH4 * N2O * greenhouse gas * emission * gas flux * tree emission * tree * stem * shoot * forest floor * Scots pine * soil moisture * ecosystem exchange
    Kód oboru RIV: EH - Ekologie - společenstva
    Impakt faktor: 4.259, rok: 2016
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0259027