Výsledky vyhledávání

  1. 1. 0351718 - FZU-D 2011 RIV CZ eng C - Konferenční příspěvek (zahraniční konf.)
    Hradilová, Monika - Jäger, Aleš - Lejček, Pavel
    3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB).
    Metal 2010 - 19th international conference on metallurgy and materials. Ostrava: Tanger s.r.o, 2010, s. 152-153. ISBN 978-80-87294-15-4.
    [Metal 2010. Rožnov pod Radhoštěm (CZ), 18.05.2010-20.05.2010]
    Výzkumný záměr: CEZ:AV0Z10100520
    Klíčová slova: scanning electron microscopy * focused ion beam * 3D characterization
    Kód oboru RIV: BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    Trvalý link: http://hdl.handle.net/11104/0191410